Test probe – test pin – spring probe – pogo pin; these are all generic terms to describe a component that traditionally is used to make contact with printed circuit boards (PCBs) or electrical components, in order to test functionality and to measure the value of the components. They are widely used in vacuum or mechanically operated test fixtures associated with automatic test equipment (ATE). They are also used inside a functional test station as part of a larger production line.
-
Long Travel Probes (23)
Long travel probes hebben een langere veerweg van 8mm t.o.v. 4,24mm voor de standaard probes. Hiermee is het mogelijk om in een dual stage fixture zowel functioneel als ICT te testen. -
POGO probes (Gold Plated) (120)
Everett Charles Technologies biedt een uitgebreide selectie van probe diameters, tipgeometrieën en platings om een geoptimaliseerde probe-oplossing voor elke toepassing te garanderen. De In-circuit en functionele test-productlijnen van ECT, waaronder de LFRE en PogoPlus Series, voldoen aan de unieke eisen, noodzakelijk om moderne bestukte printplaten zowel in mechanische als vacuüm testfixtures gedurende lange tijd betrouwbaar te contacteren. De meeste probes… -
LFRE Probes voor Loodvrij. (71)
High Performance Lead Free Probes. De LFRE Plating is speciaal ontwikkeld voor het contacteren van met loodvrije soldeer gesoldeerde componenten of oppervlakken. Deze plating is veel gladder en harder dan de standaard gouden plating en voorkomt zo het aanhechten van Tin op de kop van de probe, de punten blijven langer scherp door de hardere structuur en geeft zo een…