ECT Bead Probe BTP-25C-8
€ 2,46 Excl.
Bead probe technology (BPT) is technique used to provide electrical access (called “nodal access”) to printed circuit board (PCB) circuitry for performing in-circuit testing (ICT). It makes use of small beads of solder placed onto the board’s traces to allow measuring and controlling of the signals using a test probe. This permits test access to boards on which standard ICT test pads are not feasible due to space constraints.
Niet zeker welke Probe-Tip (-kop) voor u de meest geschikte is, kijk dan hier!
VERENDE TESTPENNEN (Test Probes) Om een geassembleerd printpaneel betrouwbaar te kunnen testen is een 100 % betrouwbare elektrische interface tussen tester en printpaneel een must.
Als contactmedium tussen print en tester worden daarom verende testpennen toegepast die in een z.g.n pennenbed, Testfixture of testmal worden gemonteerd.
DFT levert een uitgebreid programma aan hoogwaardige verende testpennen van het fabricaat ECT, in het Engels Probes genoemd.
Beschrijving
| Electrical | Current Rating (Amps): 8 Average Probe Resistance (mOhm): 8 |
||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Materials & Finishes | Plunger Material: High performance alloy, LFRE proprietary plating Barrel Material: Work-hardened Phosphor Bronze, Gold plated over hard Nickel Ball Material: Stainless Steel |
||||||||||
| Spring Material |
|
||||||||||
| Mechanical | Test Center (mil): 100 Test Center (mm): 2.54 Full Travel (mil): 250 Full Travel (mm): 6.35 Recommended Travel (mil): 167 Recommended Travel (mm): 4.24 Mechanical Life (no of cyles): 500,000 Overall Length (mil): 1,300 Overall Length (mm): 33.02 |
||||||||||
| Thermal | Min Operating Temp (°C): -55 Max Operating Temp (°C): 150 |
Beoordelingen
Er zijn nog geen beoordelingen.